納米粒度分析儀

          納米粒度分析儀技術(shù)參數(shù)

          1.測量范圍： 3-3,000nm
          2.測量時(shí)間：30-180秒
          3.重現(xiàn)性： 優(yōu)于3%CV
          4.可區(qū)別平均粒度比大于2.5的兩個(gè)峰
          5.精度： 2－5%

         主要特點(diǎn)

        1.是采用六個(gè)角度（在0-900C角度范圍）檢測的儀器
        2.*的指紋分析給出六角度的Unimodal分析圖，快速判別樣品類型

Zeta電位和分子量分析儀的技術(shù)參數(shù)

1、粒徑測量
大粒徑范圍: 0.3 nm - 10 μm *
濃度范圍: 0.1ppm – 40% w/v *
檢測角度: 175o 和 12.8o
小樣品量: 12 μl

2、Zeta電位測量
Zeta電位范圍: 無實(shí)際限制
電泳遷移率: 0 – 無實(shí)際上限
大樣品電導(dǎo)率: 200mS/cm
大樣品濃度: 40% w/v
小樣品量: 150 μl
粒徑范圍: 3.8nm - 100 μm *

3、分子量測量
分子量范圍 342 - 2 ×10⁷ Da * （動(dòng)態(tài)光散射）
980 - 2 ×10⁷ Da * （靜態(tài)光散射）
小樣品量  12 μl

* 取決于樣品

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